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涂层测厚仪测头F1
美泰涂层测厚仪F1铁基测头，依据电磁感应原理精心研制而成，涂层测厚仪铁基测头F1或非铁基N1探头可任选其一作为涂层测厚仪MCT200的标准配置（默认为F1，如需N1请注明），测量范围为0-1250μm，主要用于测量磁性基体材料上非磁性覆盖层的厚度，适用的工件最小曲率半径为1.5mm、最小测量面积直径为Φ7，基本临界值厚度为0.5mm，探头线缆长度：90cm，测头采用镀硬铬材质，坚固耐用，不易磨损，使用中，因测头引起的误差较小，测值精确，涂层测厚仪铁基测头F1的外壳采用金属材质，防腐蚀抗震动，能够有效保护测头，经久耐用，被广泛的应用于测量钢铁等磁性金属材质上的镀铜层、橡胶层及油漆层等非磁性覆盖层的厚度，是制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域以及材料保护专业科研领域必备的专业精密仪器。
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涂镀层测厚仪
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