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涂层测厚仪FI基体
涂层测厚仪铁基标准基体F1型,用于F1探头校零或作为基材配合标准试片使用，工作原理采用磁性法，当测头与校零基体接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量变化可导出覆盖层的厚度，以实现铁基体材料上涂层测厚的目的。
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涂镀层测厚仪
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